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JIMA分辨率测试卡 RT RC-04

点击:7150 日期:2015.12.06
【摘要】JIMA分辨率测试卡 RT RC-04

目前,客户可以从WorX公司购买新的JIMA(日本检测仪器制造商协会)分辨率测试卡RT RC-04。新的测试卡可以用来检测微焦点和纳焦点X射线系统的最大分辨率。

JIMA分辨率测试卡RT RC-04,提供了23个测试区域,每个区域成T型的黑白条相间。利用RT RC-04,可以检验从0.1微米到10微米的分辨率,相对应的焦点尺寸是0.2微米到20微米,新的测试卡能够满足半导体行业的新要求,检验并校准这一工业领域的纳焦点和微焦点X射线系统。

如果您对JIMA测试卡RT RC-04感兴趣,请随时与我们联系,同时我们还供应RT RC-05和RT RC-02B。

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